Ma William Cheng-Yu について
Department of Electrical Engineering, National Sun Yat-sen University, Kaohsiung, Taiwan について
Hsu Hui-Shun について
Department of Electrical Engineering, National Sun Yat-sen University, Kaohsiung, Taiwan について
Wang Hsiao-Chun について
Department of Electrical Engineering, National Sun Yat-sen University, Kaohsiung, Taiwan について
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability について
接合 について
電圧 について
電場 について
信頼性 について
薄膜トランジスタ について
不安定性 について
ホットキャリア について
キャリア輸送 について
応力効果 について
トンネル電界効果トランジスタ について
ゲートバイアス について
チャネル層 について
トランジスタ について
低温多結晶シリコン について
トンネル電界効果トランジスタ について
研究 について