Takeya Satoshi について
National Metrology Institute of Japan (NMIJ), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Central 5, 1-1-1 Higashi, Tsukuba 305-8565, Japan. s.takeya@aist.go.jp について
Muromachi Sanehiro について
Hachikubo Akihiro について
Ohmura Ryo について
Hyodo Kazuyuki について
Yoneyama Akio について
Physical Chemistry Chemical Physics について
包接化合物 について
コントラスト について
セグメンテーション について
アルゴン について
クリプトン について
水和物 について
X線画像 について
化学種 について
計算機トモグラフィー について
X線CT について
クラスレート水和物 について
画像コントラスト について
K吸収端 について
線減弱係数 について
光子エネルギー について
分子化合物 について
包接水和物 について
X線 について
コンピュータ断層撮影 について
減衰 について
画像コントラスト について