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J-GLOBAL ID：202102253241089653   整理番号：21A0217701

回路故障診断のための識別した故障ペアを数えるテストパターン測度の定式化

Formulation of a Test Pattern Measure That Counts Distinguished Fault-Pairs for Circuit Fault Diagnosis

著者 (2件)： INAMOTO Tsutomu (Graduate School of Science and Engineering, Ehime University) ,  HIGAMI Yoshinobu (Graduate School of Science and Engineering, Ehime University)
資料名： IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (Web)  (IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences (Web))
巻： E103.A  号： 12  ページ： 1456-1463(J-STAGE)  発行年： 2020年 
JST資料番号： U0466A  ISSN： 1745-1337  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文で筆者らは,回路故障診断のための技術を開発することを目指し,回路故障診断のためのテストパターンの測度の定式化を提案した。故障回路を考えると,故障診断は,回路で発生する故障の位置を推論することである。故障診断は,技術者が物理的欠陥を検査する故障解析の前にソフトウェアで実行して,故障回路を生じる製造プロセスを改善するのを助ける。故障診断の心臓部は,テストパターンを用いて候補故障を識別することであり,それは診断中の回路(CUD)に適用され,従って,できるだけ多くの故障として識別できるテストパターンを生成する必要がある。この事実は,筆者らをテストパターンによって識別される故障ペアの数に基づくテストパターン測度を考慮することを動機づけた。筆者の知る限りでは,その測度は複雑性次数O(N_F²)の計算時間を必要とし,ここにN_Fは候補故障の数を示す。N_Fは一般に実際の産業回路で大きいので,高性能コンピュータが使用される場合でも,測度の計算時間は長い。本論文で提案した定式化は,O(N_FlogN_F)の計算量で測度の計算を可能にし,従って,その測度は故障診断におけるテストパターン選択に有用である。計算実験では,定式化の有効性を,従来の式と提案した式によって計算した測度の計算時間のサンプルとして,また,測度に基づくいくつかの貪欲な発見的方法の間の徹底した比較によって実証した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 故障 ,  *故障診断 ,  認識 ,  *テストパターン ,  *測度 ,  定式化 ,  回路 ,  故障解析 ,  ソフトウェア ,  性質 ,  無次元数 ,  計算量 ,  発見的方法 ,  次数 ,  複雑性
準シソーラス用語： *回路故障 ,  識別

著者キーワード (5件)： LSI試験 ,  回路故障診断 ,  集合被覆問題 ,  欲張り発見 ,  故障対

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  その他の計算機利用技術  (JE14000C)

引用文献 (16件)：

• [1] N.K. Jha and S. Gupta, Testing of Digital Systems, Cambridge University Press, 2012. 10.1017/cbo9780511816321
• [2] L.T. Wang, C.W. Wu, and X. Wen, eds., VLSI Test Principles and Architectures - Design for Testability, The Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon, Morgan Kaufmann Publishers, 2006.
• [3] Y. Higami, S. Wang, H. Takahashi, and K.K. Saluja, “Adaptive field diagnosis for reducing the number of test patterns,” Proc. International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications, pp.412-415, July 2017.
• [4] C. Xue and R. Blanton, “Test-set reordering for improving diagnosability,” Proc. 2017 IEEE 35th VLSI Test Symposium (VTS), pp.1-6, 2017. 10.1109/vts.2017.7928926
• [5] K.Y. Cho and E.J. McCluskey, “Test set reordering using the gate exhaustive test metric,” Proc. 25th IEEE VLSI Test Symposium (VTS'07), pp.199-204, 2007. 10.1109/vts.2007.79

タイトルに関連する用語 (7件)： 回路故障 ,  診断 ,  識別 ,  故障 ,  テストパターン ,  測度 ,  定式化