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J-GLOBAL ID：202102279904664329   整理番号：21A0057961

論理回路の確率的テスタビリティの新しい算出方法

New Calculation Method of Stochastic Testability of Logic Circuits

著者 (1件)： 大豆生田利章 (群馬工高専)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D(Web)
巻： J103-D  号： 12  ページ： 941-944 (WEB ONLY)  発行年： 2020年12月01日 
JST資料番号： U0473A  ISSN： 1881-0225  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 確率を用いたテスタビリティの算出方法を提案する.提案手法では再収斂を考慮せずに求めた疑確率値に対して冪等操作と呼ぶ操作を行うことにより,再収斂がある場合でも,入力の確率値の多変数関数としてテスタビリティを算出できる.(著者抄録)

シソーラス用語： *可試験性 ,  *論理回路 ,  統計的推定 ,  可制御性 ,  可観測性 ,  試験 ,  収束 ,  *故障検出 ,  ランダムテスト

分類 (2件)： 論理回路  (NC05070B) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

引用文献 (6件)：

• 米田友洋,梶原誠司,土屋達弘,ディペンダブルシステム, 共立出版,2005.
• 藤原秀雄,ディジタルシステムの設計とテスト,工学図書, 2004.
• K.P. Parker and E.J. McCluskey, “Probabilistic treatment of general combinational networks,” IEEE Trans. Comput., vol.C-24, no.6, pp.668-670, June 1975. DOI:10.1109/T-C.1975.224279
• J. Savir, G.S. Ditlow, and P.H. Bardell, “Random pattern testability,” IEEE Trans. Comput., vol.C-33, no.1, pp.79-90, Jan. 1984. DOI:10.1109/TC.1984.5009315
• S. Elcolari, M. Favalli, M. Damiani, P. Olivo, and B. Ricco, “Testability measures in pseudorandom testing,” IEEE Trans. Computer-Aided Design, vol.11, no.6, pp.794-800, June 1992. DOI:10.1109/43.137524

タイトルに関連する用語 (3件)： 論理回路 ,  確率 ,  テスタビリティ