特許
J-GLOBAL ID:202103002504657616

材料解析システム、材料解析方法、および材料解析プログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 長谷川 芳樹 ,  黒木 義樹 ,  諏澤 勇司 ,  保坂 一之
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2019-161138
公開番号(公開出願番号):特開2021-039021
出願日: 2019年09月04日
公開日(公表日): 2021年03月11日
要約:
【課題】材料の輸送特性を簡易に得ること。【解決手段】一実施形態に係る材料解析システムは、少なくとも一つのプロセッサを備える。少なくとも一つのプロセッサは、材料の微細組織を写した材料画像を取得し、材料画像を解析することで観察対象の相の位置を識別し、相の位置に基づいて材料の微細組織に対応する輸送モデルを生成し、輸送モデルに基づいて輸送特性を算出し、輸送特性を示す輸送特性データを出力する。【選択図】図2
請求項(抜粋):
少なくとも一つのプロセッサを備え、 前記少なくとも一つのプロセッサが、 材料の微細組織を写した材料画像を取得し、 前記材料画像を解析することで観察対象の相の位置を識別し、 前記相の位置に基づいて前記材料の微細組織に対応する輸送モデルを生成し、 前記輸送モデルに基づいて輸送特性を算出し、 前記輸送特性を示す輸送特性データを出力する、 材料解析システム。
IPC (3件):
G01N 21/27 ,  H01L 39/24 ,  G01N 33/00
FI (3件):
G01N21/27 A ,  H01L39/24 Z ,  G01N33/00 A
Fターム (6件):
2G059AA03 ,  2G059BB08 ,  2G059EE13 ,  2G059FF03 ,  2G059MM01 ,  4M113CA16
引用特許:
審査官引用 (4件)
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