特許
J-GLOBAL ID:202103002582009680
荷電粒子の出射制御装置、方法及びプログラム
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
特許業務法人東京国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2019-125124
公開番号(公開出願番号):特開2021-012776
出願日: 2019年07月04日
公開日(公表日): 2021年02月04日
要約:
【課題】ビーム調整が未実施又は未完成の状態でも、シンクロトロンから荷電粒子ビームの遅い取り出しを安定的に行える荷電粒子の出射制御技術を提供する。【解決手段】荷電粒子の出射制御装置10は、シンクロトロン20において周回する荷電粒子の電流値を検出した第1検出信号S1を受信する第1受信部11と、この第1検出信号S1を時間微分してビーム強度相当値Dを出力する演算処理部16と、ビーム強度相当値Dが目標値17に一致するようにシンクロトロン20からビーム輸送系30に荷電粒子ビーム51を出射させる制御信号Gを出力する出射制御部18と、を備えている。【選択図】図1
請求項(抜粋):
シンクロトロンにおいて周回する荷電粒子の電流値を検出した第1検出信号を受信する第1受信部と、
前記第1検出信号に、少なくとも時間微分を含む演算を行い、ビーム強度相当値を出力する演算処理部と、
前記ビーム強度相当値が目標値に一致するように、前記シンクロトロンからビーム輸送系に荷電粒子ビームを出射させる制御信号を出力する出射制御部と、を備える荷電粒子の出射制御装置。
IPC (2件):
FI (3件):
H05H13/04 G
, H05H13/04 R
, A61N5/10 H
Fターム (14件):
2G085AA03
, 2G085AA13
, 2G085BA02
, 2G085BA13
, 2G085BA14
, 2G085BA15
, 2G085CA02
, 2G085CA06
, 2G085CA21
, 2G085CA22
, 2G085CA26
, 2G085EA07
, 4C082AC05
, 4C082AE01
引用特許: