特許

J-GLOBAL ID：202103007696450396

印刷物の欠陥検査装置、欠陥検査方法及びプログラム、並びに印刷システム

発明者： 関 将輝
出願人/特許権者： 富士フイルム株式会社
代理人 (4件)： 松浦 憲三 ,  大原 一樹 ,  松村 潔 ,  松浦 憲政
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2019-169309
公開番号（公開出願番号）：特開2021-047592
出願日： 2019年09月18日
公開日（公表日）： 2021年03月25日
要約：

【課題】深層学習を用いて印刷物を検査する際に画像データを適切な重複量で分割する印刷物の欠陥検査装置、欠陥検査方法及びプログラム、並びに印刷システムを提供する。【解決手段】深層学習モデルを少なくとも1つ用いて、撮像データと印刷データとを入力として、印刷物の欠陥情報を出力とする検査処理部と、深層学習モデルの畳み込み層のフィルタサイズとプーリング層のプーリングサイズと畳み込み層及びプーリング層の数とに応じた画素数だけ重複させて撮像データと印刷データとを分割する分割処理を行う前処理部と、を備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

印刷物が撮像された撮像画像を基とする撮像データを取得する撮像データ取得部と、 前記印刷物の印刷元画像を基とする印刷データを取得する印刷データ取得部と、 深層学習モデルを少なくとも1つ用いて、前記撮像データと前記印刷データとを入力として、前記印刷物の欠陥情報を出力とする検査処理部と、 前記深層学習モデルの畳み込み層のフィルタサイズとプーリング層のプーリングサイズと前記畳み込み層及び前記プーリング層の数とに応じた画素数だけ重複させて前記撮像データと前記印刷データとを分割する分割処理を行う前処理部と、 を備え、 前記検査処理部は、前記分割された前記撮像データと前記印刷データとを入力とする印刷物の欠陥検査装置。

IPC (5件)：

G06T 1/00 ,  G01N 21/892 ,  G06T 1/40 ,  G06T 7/00 ,  B41J 2/01

FI (6件)：

G06T1/00 310A ,  G01N21/892 A ,  G06T1/40 ,  G06T7/00 350C ,  B41J2/01 207 ,  B41J2/01 451

Fターム (31件)：

2C056EA04 ,  2C056EB27 ,  2C056EB40 ,  2C056EB58 ,  2C056FA13 ,  2C056HA58 ,  2G051AA34 ,  2G051AB11 ,  2G051AC04 ,  2G051CA03 ,  2G051DA06 ,  2G051DA15 ,  2G051EA12 ,  2G051EA20 ,  2G051EB01 ,  2G051EC01 ,  2G051EC05 ,  2G051ED05 ,  2G051ED09 ,  5B057AA11 ,  5B057BA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5L096AA06 ,  5L096BA07 ,  5L096CA02 ,  5L096HA11

引用特許：

審査官引用 (2件)

• スジ検出方法及び装置、印刷装置並びにプログラム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2016-064091   出願人：富士フイルム株式会社
• 画像検査方法及び装置、プログラム並びに画像記録システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2016-193973   出願人：富士フイルム株式会社

引用文献：

審査官引用 (1件)

• Lapped convolutional neural networks for embedded systems