特許

J-GLOBAL ID：202103009553351764

測定方法、測定装置および測定チップ

発明者： 京極 悠一 ,  渡辺 満 ,  野田 哲也 ,  山内 伸浩 ,  長井 史生
出願人/特許権者： コニカミノルタ株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人鷲田国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-508282
特許番号：特許第6954116号
出願日： 2016年03月17日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 被測定物質を標識する蛍光物質が、表面プラズモン共鳴に基づく局在場光により励起されて放出した蛍光を検出して、前記被測定物質の存在または量を示すシグナル値を測定する測定方法であって、 誘電体である樹脂からなるプリズムと、前記プリズムの一面上に配置された金属膜とを有する測定チップの前記プリズムに光を照射して、前記プリズムから放出される自家蛍光の光量を減衰させる第1工程と、 前記第1工程の後に、前記蛍光物質が前記金属膜上に存在しない状態で、前記金属膜で表面プラズモン共鳴が発生するように、前記プリズムを通して前記金属膜に励起光を照射して、前記測定チップから放出される光を検出し、光学ブランク値を測定する第2工程と、 前記第2工程の後に、前記蛍光物質で標識された前記被測定物質が前記金属膜上に存在する状態で、前記金属膜で表面プラズモン共鳴が発生するように、前記プリズムを通して前記金属膜に1mW/mm2以上の励起光を照射して、前記蛍光物質から放出される蛍光をフォトダイオードで検出し、蛍光値を測定する第3工程と、 前記第3工程の後に、前記蛍光値から前記光学ブランク値を引いて前記シグナル値を算出する第4工程と、 を含む、測定方法。

IPC (1件)：

G01N 21/64 ( 200 6.01)

FI (2件)：

G01N 21/64 G ,  G01N 21/64 F

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 測定処理を高速化した発光測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2010-070074   出願人：国立大学法人名古屋大学, 中立電機株式会社
• ノイズ蛍光処理方法及び蛍光検出システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-344279   出願人：ソニー株式会社
• 蛍光測定装置および蛍光測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2013-010462   出願人：株式会社古河電工アドバンストエンジニアリング

引用文献：

審査官引用 (4件)

• 高効率ハイスループット抗原特異的抗体産生細胞スクリーニングチップの研究開発
• Nonlinear Optical Response of a CdS-Coated Ag Particle
• Chapter 2 Localized surface plasmons coupled to diffracted orders
• 蛍光寿命イメージングによる生体分析