特許
J-GLOBAL ID:202103011175047932

透過電子顕微鏡試料支持体、その製造方法及びそれを用いたサンプル調整方法

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2019-149692
公開番号(公開出願番号):特開2021-034135
出願日: 2019年08月19日
公開日(公表日): 2021年03月01日
要約:
【課題】親水性及び電気伝導性において優れた特性を有する透過電子顕微鏡試料支持体を提供する。【解決手段】本透過電子顕微鏡試料支持体は、複数の孔を有する支持要素と、複数の孔の少なくとも一部の孔をカバーする2層のグラフェンとを有する。そして、2層のグラフェンのうち第1のグラフェン膜が、欠陥の少なくとも一部分に親水基が付着した親水化グラフェン膜であり、第1のグラフェン膜の欠陥量が、第1のグラフェン膜以外のグラフェン膜の欠陥量より多いことを特徴とする。このような2層のグラフェンは、例えばプラズマCVD法で成膜された2層グラフェンに対して紫外線オゾン処理を行うことによって作製される。【選択図】図3
請求項(抜粋):
複数の孔を有する支持要素と、 前記複数の孔の少なくとも一部の孔をカバーする2層のグラフェンと、 を有し、 前記2層のグラフェンのうち第1のグラフェン膜が、欠陥の少なくとも一部分に親水基が付着した親水化グラフェン膜であり、 前記第1のグラフェン膜の欠陥量が、前記第1のグラフェン膜以外のグラフェン膜の欠陥量より多い ことを特徴とする透過電子顕微鏡試料支持体。
IPC (2件):
H01J 37/20 ,  G01N 1/28
FI (2件):
H01J37/20 A ,  G01N1/28 F
Fターム (5件):
2G052EC22 ,  2G052GA34 ,  2G052HA19 ,  2G052JA15 ,  5C001CC01
引用特許:
審査官引用 (4件)
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