特許
J-GLOBAL ID:202103018068300530

長尺材の磁気特性変化部検出装置及び方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 棚井 澄雄 ,  寺本 光生 ,  勝俣 智夫 ,  山口 洋
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2019-549841
特許番号:特許第6791401号
出願日: 2018年06月29日
請求項(抜粋):
【請求項1】 長尺材の磁気特性変化部を検出する装置であって、 前記長尺材が挿通され、前記長尺材を長手方向に沿って磁化する励磁コイルと; 前記長尺材が挿通され、前記励磁コイルによる磁化によって前記長尺材に発生した磁束を検出する検出コイルと; 前記長尺材の前記長手方向に沿った一方側に位置してかつ前記長尺材が挿通される第1開口部、及び、前記長尺材の前記長手方向に沿った他方側に位置してかつ前記長尺材が挿通される第2開口部を有し、前記第1開口部及び前記第2開口部を通る軸線に対して略軸対称な形状を有する継鉄部材と; を備え、 前記励磁コイル及び前記検出コイルは、前記継鉄部材と前記第1開口部と前記第2開口部とにより囲繞され、 前記第1開口部及び前記第2開口部は、前記継鉄部材の中央付近より前記長尺材に近接している ことを特徴とする、長尺材の磁気特性変化部検出装置。
IPC (1件):
G01N 27/80 ( 200 6.01)
FI (1件):
G01N 27/80
引用特許:
出願人引用 (12件)
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審査官引用 (12件)
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引用文献:
出願人引用 (1件)
  • 微分透磁率の測定法に対する一検討
審査官引用 (1件)
  • 微分透磁率の測定法に対する一検討

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