特許
J-GLOBAL ID：202103021020328833
未知試料判定方法、未知試料判定装置及び未知試料判定プログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人栄光特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-186207
公開番号（公開出願番号）：特開2018-040779
特許番号：特許第6831094号
出願日： 2016年09月06日
公開日（公表日）： 2018年03月15日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 スタンダードの3次元蛍光スペクトルを測定した結果から蛍光特性を抽出してモデル係数を算出し、未知試料を判別する方法において、
スタンダードを測定するスタンダード工程として、
スタンダードの3次元蛍光スペクトルを測定する条件を設定する測定条件設定工程と、
測定するスタンダードを試料名と判別情報及び濃度情報等との組合せでスタンダードテーブルに登録するスタンダードテーブル登録工程と、
前記スタンダードテーブルに登録したスタンダードの3次元蛍光スペクトルを前記測定条件設定工程で設定した条件に従って測定する3次元蛍光スペクトル測定工程と、
得られた各前記スタンダードの3次元蛍光スペクトルから蛍光特性を抽出して蛍光物質候補ライブラリの蛍光特性と対比してスタンダードに含まれる候補蛍光物質を判定する候補蛍光物質判定工程と、
前記候補蛍光物質判定工程で判定した候補蛍光物質の3次元蛍光スペクトルから蛍光特性を表す第一ピークを抽出して規格化するピーク選択工程と、
蛍光強度等高線判定値を基準とした波長範囲を設定するスペクトル範囲選択工程と、
前記設定したスペクトル範囲でサブピークを選択するサブピーク選択工程と、
前記設定した第一ピーク、波長範囲及びサブピークから多変量解析によりモデル係数を算出するモデル係数出力工程と、
を有し、
次に未知試料を測定するサンプル工程として、
前記スタンダード工程で出力したモデル係数を読込むモデル係数読込工程と、
未知試料の3次元蛍光スペクトルを測定する条件を設定する測定条件設定工程と、
前記測定条件設定工程で設定した測定条件が前記スタンダード工程の測定条件設定工程で設定した条件と同等あるいは蛍光特性を示すスペクトル範囲を含むことを判定する測定条件の判定工程と、
3次元蛍光スペクトルを測定する未知試料の試料名および判定条件をサンプルテーブルとして設定するサンプルテーブル設定工程と、
前記サンプルテーブルに設定した未知試料を前記測定条件設定工程で設定した条件で測定する3次元蛍光スペクトル測定工程と、
前記の3次元蛍光スペクトル測定工程で測定して得られた3次元蛍光スペクトルの蛍光特性から前記読込んだモデル係数に合致する候補蛍光物質を判定する候補蛍光物質判定工程と、
前記候補蛍光物質判定工程で判定した候補蛍光物質の組合せから候補試料ライブラリと照合して未知試料を抽出する未知試料抽出工程とを有し、
前記抽出した候補蛍光物質名を判定に用いた蛍光特性と共に一覧表形式で表示する候補蛍光物質表示工程と、
前記候補蛍光物質の組合せから抽出した未知試料名を前記候補蛍光物質の蛍光特性一覧と共に表示する未知試料表示工程と、
を有する未知試料判別方法であって、
前記スタンダード工程及び前記サンプル工程における候補蛍光物質判定工程は、
前記スタンダード工程及び前記サンプル工程の3次元蛍光スペクトル測定工程にて測定した3次元蛍光スペクトルにおける最大蛍光強度を示すあるいは蛍光特性を示す特徴的な蛍光波長領域にあるピークを第一ピークとして選択して規格化して、
前記第一ピークの許容波長範囲を設定するピーク選択工程と、
等高線判定値から励起波長範囲及び蛍光波長範囲からなるスペクトル範囲を選択して散乱光及び多次光等の蛍光特性判別に不要な波長範囲を除外して設定した複数のスペクトル範囲が重ならないように近接ピークの判定処理を行うスペクトル範囲選択工程と、
前記等高線判定値から設定した波長範囲内にあるサブピークのピーク数、ピーク波長及び第一ピークに対する強度比であるピーク比等を設定するサブピーク設定工程と、
前記ピーク選択工程で設定した第一ピーク、前記スペクトル範囲選択工程で選択したスペクトル範囲、及び前記サブピーク設定工程にて設定したサブピーク情報について、
スタンダード工程においては、蛍光物質候補ライブラリの候補蛍光物質と一致するかの判定工程を有し、
サンプル工程においては、スタンダード工程で判定した候補蛍光物質と一致するかの判定工程を有し、
前記判定工程で一致した候補蛍光物質を候補蛍光物質名および前記ピーク選択工程で設定した第一ピーク、前記スペクトル範囲選択工程で選択したスペクトル範囲及び前記サブピーク設定工程にて設定したサブピークの情報と共に一覧表示する未知試料判別方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
引用文献：
審査官引用 (5件)
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F-7000形分光蛍光光度計を用いた蛍光指紋による食品分析技術
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F-7000形分光蛍光光度計を用いた蛍光指紋による食品分析技術
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INSTRUCTION MANUAL
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