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J-GLOBAL ID：202202257187470007   整理番号：22A1118053

結晶試料の再構成された出口波動関数における残留収差の直接推定と補正【JST・京大機械翻訳】

Direct estimation and correction of residual aberrations in the reconstructed exit-wavefunction of a crystalline specimen

著者 (7件)： Chen Z.K. (Center for High-Resolution Electron Microscopy, College of Materials Science & Engineering, Hunan University, Changsha, Hunan 410082, China) ,  Ming W.Q. (Center for High-Resolution Electron Microscopy, College of Materials Science & Engineering, Hunan University, Changsha, Hunan 410082, China) ,  He Y.T. (Center for High-Resolution Electron Microscopy, College of Materials Science & Engineering, Hunan University, Changsha, Hunan 410082, China) ,  Shen R.H. (Center for High-Resolution Electron Microscopy, College of Materials Science & Engineering, Hunan University, Changsha, Hunan 410082, China) ,  Chen G.S. (Center for High-Resolution Electron Microscopy, College of Materials Science & Engineering, Hunan University, Changsha, Hunan 410082, China) ,  Yin M.J. (Electron Microscopy Center, Shenzhen University, Shenzhen, Guangdong 518060, China) ,  Chen J.H. (Center for High-Resolution Electron Microscopy, College of Materials Science & Engineering, Hunan University, Changsha, Hunan 410082, China)
資料名： Micron  (Micron)
巻： 157  ページ： Null  発行年： 2022年 
JST資料番号： E0318E  ISSN： 0968-4328  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 透過電子顕微鏡における結晶試料を用いて二次までの残留収差を測定することは挑戦的である。ここでは,実験および模擬画像の両者の良好な例を示し,それは,再構成された出口波動関数の最小振幅コントラスト基準を用いて,二次までの収差を測定することが可能であることを示した。タスクのための2段階戦略を提案する。(i)まず,誤差蓄積を避け,パラメータ空間における次元数を減らすために,デフォーカスと2倍の乱視を同時に測定する。(ii)デフォーカスと2倍乱視における最小誤解効果(または誤差)で,三倍乱視と昏睡の推定をより効率的に行うことができた。この方法の有効性に及ぼす試料構造,分解能および試料厚さのような他の因子の影響も詳細に議論した。本研究は,結晶材料を用いた画像波における残留収差を修正するための実用的な手順を提供し,材料研究への出口波再構成技術の適用を容易にする。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： コントラスト ,  *収差 ,  *波動関数 ,  分解能 ,  画像 ,  多重化 ,  再構成 ,  乱視 ,  焦点合せ ,  有効性 ,  透過型電子顕微鏡
準シソーラス用語： デフォーカス ,  パラメータ空間 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 出口波動関数 ,  透過型電子顕微鏡 ,  残留収差 ,  多重解問題 ,  最小振幅コントラスト

分類 (2件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (8件)： 結晶 ,  試料 ,  再構成 ,  出口 ,  波動関数 ,  残留 ,  収差 ,  推定