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J-GLOBAL ID：202202258052818949   整理番号：22A0913738

過去から未来までのCMOS信頼性:要求,傾向および予測方法の調査【JST・京大機械翻訳】

CMOS Reliability From Past to Future: A Survey of Requirements, Trends, and Prediction Methods

著者 (5件)： Hill Ian (Electrical and Computer Engineering Department, The University of British Columbia, Vancouver, BC, Canada) ,  Chanawala Parvez (Electrical and Computer Engineering Department, The University of British Columbia, Vancouver, BC, Canada) ,  Singh Rohit (Electrical and Computer Engineering Department, The University of British Columbia, Vancouver, BC, Canada) ,  Sheikholeslam S. Arash (Electrical and Computer Engineering Department, The University of British Columbia, Vancouver, BC, Canada) ,  Ivanov Andre (Electrical and Computer Engineering Department, The University of British Columbia, Vancouver, BC, Canada)
資料名： IEEE Transactions on Device and Materials Reliability  (IEEE Transactions on Device and Materials Reliability)
巻： 22  号： 1  ページ： 1-18  発行年： 2022年 
JST資料番号： W1320A  ISSN： 1530-4388  CODEN： ITDMA2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： IC製造,新興高信頼市場,および政府規制における開発は,IC開発と製品ライフサイクルの中で信頼性がいかに適合するかの,大きなシフトの可能性を示す。本調査は,IC信頼性の傾向を総合的に調べ,故障を予測するために使用する方法を調査する。IC製造における最近のおよび期待される進歩の背景概観を,異なる市場に対する信頼性要求とともに,現代ICに影響する重要な老化メカニズムのレビューとともに提供した。信頼性傾向の調査は,プロセスノード,トランジスタアーキテクチャの変化,およびデバイス材料への変化を調べる研究の本体を捉える。結論の高レベル分析は,多くの変化に関する重要な不確実性と,さらなる研究を正当化する多様な話題を明らかにした。製品信頼性の特徴付けに用いる現在の信頼性予測手法の批判的視点を,既存の技術を強化し,改善するための新しい予測方法を開発する研究の調査によって追跡した。これらのトピックスは,IC信頼性キャラクタリゼーションの状態と,克服すべき課題を克服する可能性のある経路を例証するために一緒になる。Copyright 2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *予測技法 ,  トランジスタ ,  *信頼性 ,  不確実性 ,  キャラクタリゼーション ,  計算機アーキテクチャ ,  CMOS
準シソーラス用語： 信頼性予測 ,  製品寿命 ,  集積回路信頼性 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 未来 ,  CMOS ,  傾向 ,  予測方法 ,  調査