文献

J-GLOBAL ID：202202272521086200   整理番号：22A0430477

予測モデリングはバーンイン試験(BIT)に有効光を当てる:簡単なレビューと最近の拡張【JST・京大機械翻訳】

Predictive modeling sheds useful light on burn-in testing (BIT): Brief review and recent extension

著者 (4件)： Suhir E. (Portland State University, Portland, OR, USA) ,  Suhir E. (Technical University, Vienna, Austria) ,  Suhir E. (James Cook University, Queensland, Australia) ,  Suhir E. (ERS Co., USA)
資料名： Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)
巻： 128  ページ： Null  発行年： 2022年 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： この短いレビューにおいて,エレクトロニクスとフォトニクス(E&P)製造におけるバーンイン試験(BIT)に関するいくつかの重要な公表研究を考察した。強調は,モデリングの役割と重要性,特に解析(数学的)モデリングに関するものである。すべての結果と結論は,マイクロエレクトロニクスシステム(MEMS)とフォトニックMEMS(MOEMS)に等しく適用可能である。3つの予測モデルを扱った。1)(非ランダム)浴管曲線(BTC)の幼児死亡率部分(IMP)の分析に基づいて,この部分の開始時の故障率の時間導関数は,BIT努力の基本的質問に答える適切な基準であると見なせる:”BITまたはBITではない”。この導関数がゼロであれば,BTCのIMPは水平,時間,軸に平行であり,IMPは単純に存在せず,従ってBITは必要でない。もう一つの極端な場合では,この導関数が有意(”minus”符号,コース),垂直,破壊速度,軸,および望ましくない”freaks”に対するBTCリングのIMPが存在するが,それらは,短期および低レベルBITによって容易に除去できる。好ましくない,材料劣化,従って破壊関連故障率(PFR)の物理は,BTCのIMPのこの初期段階の間に役割を果たしず,このモデルでは考慮されない。2)製造製品が関心のある多数の大量生産部品のランダム故障率(RFR)の解析に基づくモデルは,上記の導関数が,これらの成分のRFRの分散に影響することを示唆する。それらの実際の故障率は,規則として未知であり,ゼロから無限までの非常に広い範囲で非常に良く変化する。3)マルチパラメトリックBoltzmann-Arrhenius-Zhurkov(BAZ)構成方程式の使用に基づくモデルは,この故障指向加速試験(FOAT)が必要な場合,BITの適切な継続時間とレベルを確立するために効果的に使用できる。これらのモデルを用いて求めた知見を,計算したデータによって例証した。予測モデリングは,常に実際のBITに先行するべきであり,解析モデリングは,常にコンピュータシミュレーションを補完し,そして,将来の研究は,実験検証と,この解析に取り組まれる結果の可能性のある拡張に焦点を当てるべきであると結論づける。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 計算機シミュレーション ,  故障 ,  故障率 ,  大量生産 ,  加速試験 ,  電子技術 ,  破壊伝搬速度 ,  構成方程式 ,  *導関数 ,  継続時間 ,  予測モデル ,  MEMS
準シソーラス用語： *バーンイン ,  フォトニクス ,  MOEMS , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： バーンインテスト ,  確率的モデリング ,  Boltzmann-Arrhenius-Zhurkov方程式

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (7件)： 予測 ,  モデリング ,  バーンイン ,  試験 ,  BIT ,  レビュー ,  拡張