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J-GLOBAL ID:202202274083302072   整理番号:22A0473088

OVPE法による多結晶形成と高速GaN結晶成長の抑制に及ぼす付加的N_2Oガスの影響【JST・京大機械翻訳】

Effect of additional N2O gas on the suppression of polycrystal formation and high-rate GaN crystal growth by OVPE method
著者 (15件):
資料名:
巻: 581  ページ: Null  発行年: 2022年 
JST資料番号: B0942A  ISSN: 0022-0248  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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酸化物気相エピタキシー(OVPE)法における課題の一つは,厚いGaN結晶の高速成長のための多結晶形成を抑制することである。本研究では,OVPE-GaN成長における多結晶形成を抑制する方法として,N_2Oガスの添加を示した。N_2OガスがGa液滴,多結晶GaNの起源を除去できることを確認した。結果は,多結晶密度がN_2Oガスの添加によって減少することを示した。N_2Oガス流量の増加による成長速度の低下はH_2O蒸気に比べて小さく,これはN_2OがGaN成長反応に直接影響しないという事実と一致した。さらに,128μm/hの成長速度で512μm厚さのOVPE-GaN層を得たが,これはOVPE法における厚いGaN層の成長に対して最も高い値であった。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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半導体薄膜 
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