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J-GLOBAL ID：202202289045615246   整理番号：22A0477381

貯蔵中の高水分米の貯蔵,水分および食味に及ぼす電子線照射の影響【JST・京大機械翻訳】

Effect of electron beam irradiation on storage, moisture and eating properties of high-moisture rice during storage

著者 (6件)： Zhai Yuheng (National Engineering Laboratory for Cereal Fermentation Technology, Jiangnan University, Wuxi, 214122, China) ,  Pan Lihong (National Engineering Laboratory for Cereal Fermentation Technology, Jiangnan University, Wuxi, 214122, China) ,  Luo Xiaohu (National Engineering Laboratory for Cereal Fermentation Technology, Jiangnan University, Wuxi, 214122, China) ,  Zhang Yuwei (Wuxi EL PONT Radiation Technology Co., Ltd, Wuxi, 214151, China) ,  Wang Ren (National Engineering Laboratory for Cereal Fermentation Technology, Jiangnan University, Wuxi, 214122, China) ,  Chen Zhengxing (National Engineering Laboratory for Cereal Fermentation Technology, Jiangnan University, Wuxi, 214122, China)
資料名： Journal of Cereal Science  (Journal of Cereal Science)
巻： 103  ページ： Null  発行年： 2022年 
JST資料番号： H0885A  ISSN： 0733-5210  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高水分米(HMR)は良好な加工と食味を有するが,長時間貯蔵することは困難である。本研究では,HMRを電子ビーム照射(EBI)の低用量(0,1,2,3,および4kGy)で処理し,180日間貯蔵した。HMRの貯蔵特性,水変化,物理化学的性質,および摂食品質を分析した。結果は,180日後に,リパーゼ活性と脂肪酸値の生成率,ならびに米粒の全生存細菌数が減少し,EBIがこの過程を促進したことを示した。次に,含水量は減少し,物理的吸収水は貯蔵の後期段階で消失した。一方,米粒の内部構造は,水移動過程で緩やかになった。長期貯蔵時間により,米粉のアミロース含量および糊化粘度は増加した。さらに,EBIはHMRの摂食品質の劣化を遅らせることができた。これらの結果は,EBIがイネ貯蔵を改善する新しいグリーンで安全な戦略であることを示した。Copyright 2022 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *電子照射 ,  粘度 ,  含水量 ,  吸着水 ,  *水分 ,  糊化 ,  米粉 ,  内部構造
準シソーラス用語： 物理化学的性質 ,  米粒 ,  アミロース含量 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： Electronビーム照射 ,  高水分米 ,  貯蔵品質 ,  食事の質

分類 (2件)： 穀類とその製品一般  (FJ04010T) ,  食品の品質  (FJ01040F)

タイトルに関連する用語 (4件)： 貯蔵 ,  水分 ,  食味 ,  電子線照射