特許

J-GLOBAL ID：202203010382766702

熱伝導率測定装置及び熱伝導率測定方法

発明者： 圓山 重直 ,  岡部 孝裕 ,  井関 祐也 ,  野中 崇 ,  古川 琢磨 ,  細川 靖 ,  田畑 裕太郎 ,  松舘 直史 ,  中島 利憲 ,  東 雅也 ,  折戸 学
出願人/特許権者： SEMITEC株式会社 ,  独立行政法人国立高等専門学校機構 ,  国立大学法人弘前大学
代理人 (1件)： 和泉 順一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2022-097479
公開番号（公開出願番号）：特開2022-126749
出願日： 2022年06月16日
公開日（公表日）： 2022年08月30日
要約：

【課題】被測定体の温度を高精度、高確度及び高速応答性をもって計測することができる熱伝導率測定装置及び熱伝導率測定方法を提供する。 【解決手段】熱伝導率測定装置は、温度を感知する感温部41と、温度を測定可能な測定用の薄膜感温素子1と、前記測定用の薄膜感温素子1に一定電力の第1の熱パルスを印加し、前記第1の熱パルスの印加停止後の一定時間に被測定体の熱伝導率を算出するとともに、前記測定用の薄膜感温素子1に前記第1の熱パルスより時間幅の長い一定電力の第2の熱パルスを印加し、前記第2の熱パルスの印加停止後の一定時間に被測定体の熱伝導率を算出するように制御する制御処理部5と、を具備する。 【選択図】図9

請求項（抜粋）：

温度を感知する感温部と、 温度を測定可能な測定用の薄膜感温素子と、 前記測定用の薄膜感温素子に一定電力の第1の熱パルスを印加し、前記第1の熱パルスの印加停止後の一定時間に被測定体の熱伝導率を算出するとともに、前記測定用の薄膜感温素子に前記第1の熱パルスより時間幅の長い一定電力の第2の熱パルスを印加し、前記第2の熱パルスの印加停止後の一定時間に被測定体の熱伝導率を算出するように制御する制御処理部と、 を具備することを特徴とする熱伝導率測定装置。

IPC (4件)：

G01N 25/18 ,  A61B 5/00 ,  A61B 10/00 ,  A61B 5/01

FI (5件)：

G01N25/18 E ,  A61B5/00 M ,  A61B10/00 Q ,  A61B10/00 T ,  A61B5/01 150

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 温度測定装置、熱伝導率測定装置および熱伝導率測定方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2015-103156   出願人：国立大学法人東北大学
• 温度測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-123670   出願人：株式会社森精機製作所, 国立大学法人金沢大学
• 特許第5327840号公報