特許
J-GLOBAL ID：202203012709096946
テラヘルツ波形検出装置、テラヘルツ波形の検出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人はるか国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2020-134927
公開番号（公開出願番号）：特開2022-030729
出願日： 2020年08月07日
公開日（公表日）： 2022年02月18日
要約：
【課題】テラヘルツパルス波の波形をより精度良く検出することにある。
【解決手段】テラヘルツ波形検出装置1は、テラヘルツパルス波にチャープを付与することでチャープ変調成分を生成するチャープ付与部30と、チャープ変調成分に応じたチャープ量のチャープパルス波を生成するチャープパルス波生成部40と、チャープパルス波とチャープ変調成分とに基づいて、テラヘルツパルス波の電場波形を検出する電場波形検出部50と、を有する。
【選択図】図5
請求項（抜粋）：
テラヘルツパルス波にチャープを付与することでチャープ変調成分を生成するチャープ付与部と、
前記チャープ変調成分に応じたチャープ量のチャープパルス波を生成するチャープパルス波生成部と、
前記チャープパルス波と前記チャープ変調成分とに基づいて、前記テラヘルツパルス波の波形を検出する波形検出部と、
を有するテラヘルツ波形検出装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (20件)：
2G059EE01
, 2G059GG01
, 2G059GG08
, 2G059GG10
, 2G059HH05
, 2G059JJ01
, 2G059JJ05
, 2G059JJ17
, 2G059JJ22
, 2G059KK01
, 2G059PP05
, 2K102AA36
, 2K102BA01
, 2K102BB04
, 2K102BC01
, 2K102BD09
, 2K102DA01
, 2K102DD03
, 2K102DD05
, 2K102EB22
