テラヘルツ電場波形検出装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：塩野入章夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-017672
公開番号（公開出願番号）：特開2016-142594
出願日： 2015年01月30日
公開日（公表日）： 2016年08月08日
要約：

【課題】テラヘルツ波とチャープ付プロープパルス波とを用いたポンプ・プローブ方式によるテラヘルツ波の波形計測において、1ショットのテラヘルツ波のテラヘルツ電場波形を単一の検出器(シングルフォトダイオード)で検出する。【解決手段】テラヘルツ波のテラヘルツ電場波形のスペクトル情報及び位相情報をチャープパルス波に書き込むことによってテラヘルツ電場波形を検出する構成と、テラヘルツ電場の情報が書き込まれたチャープパルス波を時間方向に波形伸張させることによってアナログ信号として検出可能な周波数まで低周波化する構成によって、1ショットのテラヘルツパルス波の単一検出器による検出を可能とする。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

チャープパルス波とテラヘルツ波との差周波光及び/又は和周波光によってテラヘルツ波のテラヘルツ電場波形に基づくチャープパルス波を強度変調し、当該強度変調によってテラヘルツ波からテラヘルツ電場波形のスペクトル情報及び位相情報をチャープパルス波に重畳させたチャープパルス変調波を出射するチャープ波変調部と、前記チャープ波変調部のチャープパルス変調波を時間方向に伸張させて低波数側に波数シフトする波形伸張部と、前記波形伸張部で時間方向に伸張したチャープパルス変調伸張波をアナログ信号に変換する光-電気変換部と、前記光-電気変換部で変換したアナログ信号からテラヘルツ電場波形のスペクトル情報及び/又は位相情報を検出する電場波形検出部とを備えることを特徴とする、テラヘルツ電場波形検出装置。

IPC (3件)：

G01N 21/358 , G02F 1/37 , G02F 1/35

FI (3件)：

G01N21/3586 , G02F1/37 , G02F1/35

Fターム (21件)：

2G059GG01 , 2G059HH01 , 2G059KK01 , 2G059MM01 , 2K102AA02 , 2K102AA05 , 2K102AA07 , 2K102AA36 , 2K102BA01 , 2K102BA18 , 2K102BB01 , 2K102BB02 , 2K102BC02 , 2K102BD09 , 2K102DA01 , 2K102DD03 , 2K102DD05 , 2K102DD10 , 2K102EB11 , 2K102EB16 , 2K102EB22

引用特許：

審査官引用 (7件)

テラヘルツパルス光計測方法及び装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-175037 出願人：株式会社栃木ニコン, 株式会社ニコン
マルチチャンネルテラヘルツ波スペクトル測定法及び測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2004-040230 出願人：アイシン精機株式会社, 田中耕一郎
特開平1-176920

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