特許

J-GLOBAL ID：202303000421080920

情報処理装置、情報処理方法、および、コンピュータプログラム

発明者： 梶原 義実 ,  井上 隼多 ,  堀 涼 ,  野原 裕太 ,  川西 康友
出願人/特許権者： 国立大学法人東海国立大学機構
代理人 (1件)： 弁理士法人アルファ国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2021-200465
公開番号（公開出願番号）：特開2023-086147
出願日： 2021年12月10日
公開日（公表日）： 2023年06月22日
要約：

【課題】器物を対象として、熟練した技術を要さず、効率的にかつバラツキを抑えて、器物形状図面を自動的に作成する。 【解決手段】器物の形状を少なくとも器物の断面の輪郭線と器物の表面上の稜線とを用いて表す器物形状図面を生成するための情報処理装置は、断面取得部と、微分値取得部と、特定点抽出部と、図面生成部とを備える。断面取得部は、器物の断面の輪郭線を示す断面データを取得する。微分値取得部は、輪郭線上の各点における1階微分値および2階微分値を取得する。特定点抽出部は、1階微分値および2階微分値に基づき、輪郭線上の凹点または凸点である特定点を抽出する。図面生成部は、特定点を通る水平線を稜線として設定し、稜線と輪郭線とに基づき器物形状図面を生成する。 【選択図】図5

請求項（抜粋）：

器物の形状を少なくとも前記器物の断面の輪郭線と前記器物の表面上の稜線とを用いて表す器物形状図面を生成するための情報処理装置であって、 前記器物の前記断面の前記輪郭線を示す断面データを取得する断面取得部と、 前記輪郭線上の各点における1階微分値および2階微分値を取得する微分値取得部と、 前記1階微分値および前記2階微分値に基づき、前記輪郭線上の凹点または凸点である特定点を抽出する特定点抽出部と、 前記特定点を通る水平線を前記稜線として設定し、前記稜線と前記輪郭線とに基づき前記器物形状図面を生成する図面生成部と、 を備える、情報処理装置。

IPC (3件)：

G06T 17/00 ,  G06T 7/00 ,  G06T 7/60

FI (3件)：

G06T17/00 ,  G06T7/00 C ,  G06T7/60 150D

Fターム (18件)：

5B080AA01 ,  5B080CA00 ,  5B080FA00 ,  5B080GA00 ,  5L096AA09 ,  5L096CA18 ,  5L096DA02 ,  5L096FA06 ,  5L096FA08 ,  5L096FA09 ,  5L096FA13 ,  5L096FA23 ,  5L096FA62 ,  5L096FA66 ,  5L096FA67 ,  5L096GA03 ,  5L096GA51 ,  5L096MA07

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 遺構実測図の作成方法及びシステム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-252969   出願人：アイシン精機株式会社