特許
J-GLOBAL ID：202403002503340130
表面検査装置及びそれを用いた検出処理方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (4件)：
白崎 真二
, 阿部 綽勝
, 勝木 俊晴
, 岡崎 紳吾
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2022-111543
公開番号（公開出願番号）：特開2024-010293
特許番号：特許第7543345号
出願日： 2022年07月12日
公開日（公表日）： 2024年01月24日
請求項（抜粋）：
【請求項1】平板状の金属ワークをコンベアで搬送しながら、該金属ワークの欠点を検知するための表面検査装置であって、 前記コンベアの上方に設けられた支持フレームと、 該支持フレームに取り付けられた検査ユニットと、 該検査ユニットに接続された制御部と、を備え、 少なくとも、前記金属ワークの幅方向に複数の前記検査ユニットが直線状に配置された第1検査ユニット群及び第2検査ユニット群が形成され、 前記第1検査ユニット群及び前記第2検査ユニット群の前記検査ユニットが、上面視で千鳥状となるように配置されており、 前記金属ワークの幅方向における特定の部位が、前記第1検査ユニット群の前記検査ユニット、及び、前記第2検査ユニット群の前記検査ユニット、の少なくとも何れか一方の撮影可能範囲を通過するものであり、 前記検査ユニットが、下壁部を有しない筐体部、該筐体部の上壁部に取り付けられたカメラ、及び、該筐体部の側壁部の内面側に取り付けられた光源部、を有し、 前記筐体部を透過させた上面視で、前記カメラが中心に配置され、且つ、該カメラを囲繞するように前記光源部が配置されており、 前記光源部と前記カメラとの鉛直方向における最短距離が300mm以下であり、 前記金属ワークと前記カメラとの鉛直方向における最短距離が350mm以下であり、 前記制御部が、前記カメラで撮影された前記金属ワークの連続的な静止画の画像データを受信し、該画像データに基づいて、前記金属ワークの欠点を検知するものである表面検査装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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