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J-GLOBAL ID:200901064542710922
Update date: Jan. 17, 2024
Watanabe Tohru
ワタナベ トオル | Watanabe Tohru
Affiliation and department:
旧所属 東京都立大学 工学部 応用化学科
About 旧所属 東京都立大学 工学部 応用化学科
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Job title:
助教授
Research field (4):
Metallic materials
, Thin-film surfaces and interfaces
, Crystal engineering
, Applied materials
Research keywords (30):
Metastable phase
, Electron Microscope
, Plating
, Thin film
, Boundary
, Surface
, Epitaxial Growth
, Crystal Growth
, Amorphous
, Magnetic body
, Metal
, Status Map
, Phase Transformation
, Lattice Detect
, 準安定相
, アモルファス
, 電子顕微鏡
, めっき
, 薄膜
, 表面界面
, エピタキシャル成長
, 結晶成長
, 非晶質
, 磁性体
, 金属
, 拡散
, 格子欠陥
, 表面・界面
, 状態図
, 相変態
Research theme for competitive and other funds (10):
1967 - めっき法による機能材料の作製
1967 - めっき膜の構造制御理論の構築
1967 - めっき膜の結晶構造と熱平衡状態図との関連性
1967 - Fabrication of Functional Materials by Plating method
1967 - Control theory of crystallographic structure of Plated film
1967 - Relationship Between Crystallographic Stucture of Plated Alloy Films and Thermal Equilibrium Diagram
めっき膜の構造に関するデータベースの作成
めっき膜の構造および物性制御に関する研究
Editing of database on structure of plated film
Investigation on crystallographic structure and physical properties of plated film
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MISC (255):
電析銅めっき膜の経時軟化現象(共著). 日本金属学会誌. 2004. 第68巻 844~850頁
電析Crめっき膜への水素の浸入と構造変化(共著). 日本金属学会誌. 2004. 第68巻 552-557頁
OKAMOTO Naoki, YAE Shinji, YAMAGISHI Kenji, MITSUMATA Nobuaki, FUKUMURO Naoki, WATANABE Tohru, MATSUDA Hitoshi. Aging Behavior of Sensitizer of Catalyzation Pretreatment for Electroless Plating. Jitsumu Hyomen Gijutsu. 2004. 第55巻 281~285頁. 4. 281-285
温室におけるグラビア製版用電析銅めっき膜の経時軟化現象(共著). 日本印刷学会. 2004. 第41巻 40~47頁
Cu、Ni、Ag上の電析Cu、Ni、Agめっき膜の密着性(共著). 日本金属学会誌. 2004. 第68巻 110~113頁
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Books (22):
ファインプレーティング -めっき膜の構造および物性制御技術と解析法-
(株)情報技術協会出版 2002
表面処理対策Q&A1000(編集担当)
表面処理対策Q&A1000編集委員会編集 株式会社産業技術サービスセンター 1998
材料科学の最前線(編集委員長)
講談社(ブルーバックスシリーズ) 1998
表面技術便覧 (編集幹事)
(社)表面技術協会編 日刊工業新聞社 1998
measurs in surface tratment Q&A1000
Sangyogijutu service center Co. Ltd. 1998
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Works (6):
銅材料における表面微細処理加工技術に関する研究
2001 -
めっき膜の構造に関する研究
2001 -
Study on surface micro technology of metric material
2001 -
Study of structure of plated film
2001 -
材料表面改質機能化に関する研究
2000 -
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Education (2):
- 1963 Shibaura Institute of Technology
- 1963 Shibaura Institute of Technology
Professional career (1):
Dr. Eng. (Tokyo Metropolitan University)
Work history (8):
1969 - 1990 Tokyo Metropolitan University Faculty of Engineering
1969 - 1990 Tokyo Metropolitan University, assistant researcher
1990 - - 東京都立大学工学部応用化学科 助教授
1990 - - Tokyo Metropolitan University, associate professor
1977 - 1979 英国サセックス大学 post doctor
1977 - 1979 Sussex University, post doctor
1963 - 1969 Tokyo Metropolitan University Faculty of Engineering, Department of Mechanical Engineering
1963 - 1969 Tokyo Metropolitan University, assistant researcher
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Committee career (26):
2002 - (社)日本金属学会「ナノプレーティング研究会」 世話人代表
1999 - (社)表面技術協会 50周年記念行事担当
1999 - 日本電子顕微鏡学会 関東支部 評議員及び幹事
1994 - 1998 日本表面科学会 評議員
1994 - 1998 日本表面科学会 研究委員会委員
1997 - (社)表面技術協会 将来計画検討委員会委員、不定期刊行物委員会委員
1994 - 1996 日本表面科学会 表面科学国際シンポジウム組織委員
1993 - 1996 日本金属学会めっき膜の構造および物性制御研究会 世話幹事
1996 - (社)表面技術協会 不定期刊行物委員会委員、
1992 - 1995 日本表面科学会 編集委員
1995 - (社)表面技術協会 庶務理事、学術講演大会実行委員会委員、将来計画検討委員会委員、不定期刊行物委員会委員
1993 - 1994 日本表面科学会 庶務理事
1994 - (社)表面技術協会 庶務理事、不定期刊行物委員委員
1993 - (社)表面技術協会 会員委員会及び会員増強委員会幹事、セミナー企画専門委員会委員
1990 - (社)表面技術協会 協会賞進歩賞選考委員会委員、アカデミー実行専門委員会委員
1985 - 1989 日本表面科学会 企画委員
1989 - (社)表面技術協会 会誌編集委員会委員、学術講演大会実行委員、総合展企画委員会委員
1987 - (社)表面技術協会 学術担当委員会委員、会誌編集委員会委員
1974 - 1986 日本電子顕微鏡学会 評議員
1986 - (社)表面技術協会 会員増強委員会委員、学術担当委員会委員、学術講演大会実行委員
1985 - (社)表面技術協会 会員増強委員会委員、運営委員会委員、学術担当委員会委員、学術講演大会実行委員
1985 - (社)表面技術協会「ファインプレーティング研究部会」 庶務幹事
1984 - (社)表面技術協会 会員増強委員会委員、運営委員会委員、学術担当委員会委員
1983 - (社)表面技術協会(元(社)金属表面技術協会) 運営委員会委員
1974 - 1976 日本電子顕微鏡学会 関東支部 幹事
1976 - 日本電子顕微鏡学会 台11回国際電子顕微鏡学会 運営委員
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Association Membership(s) (12):
(社)日本金属学会「ナノプレーティング研究会」
, 日本学術振興会「アモルファス・ナノ材料代147委員会
, (社)表面技術協会
, (社)表面技術協会(元(社)金属表面技術協会)
, 日本表面科学会
, 日本電子顕微鏡学会
, 日本鉄鋼協会
, 日本応用磁気学会
, 電気化学会
, (社)表面技術協会「ファインプレーティング研究部会」
, 日本金属学会めっき膜の構造および物性制御研究会
, 日本金属学会
※ Researcher’s information displayed in J-GLOBAL is based on the information registered in
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For details, see here
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