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J-GLOBAL ID：200902042013250800   Reference number：87A0051372

Surface electron microscopy.

表面電子顕微鏡法

Author (3)： YAGI KATSUMICHI (東京工大 理) ,  TANISHIRO YASUMASA (東京工大 理) ,  TAKAYANAGI KUNIO (東京工大 理)
Material： 応用物理  (JSAP International)
Volume： 55  Issue： 11  Page： 1036-1050  Publication year： Nov. 1986 
JST Material Number： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： surface analysis ,...

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JST classification (2)： Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Surface structure of solids in general  (BK15010E)

Reference (81)：

• 1) 小間 篤他編:表面物性ハンドブック(丸善1987刊行予定).
• 2) G. A. Somorjai: Surf. Sci. 89 (1979) 496.
• 3) P. M. Petroff, A. C. Gossard and W. Wiegmann: Appl. Phys., Lett, 45 (1984) 620.
• 4) M. Kawabe and T. Ueda. Jpn. J. Appl. Phys. 25 (1986) L 288 および引用文献.
• 5) M. G. Lagally: Chemistry and Physics of Solid Surfaces, ed. R. Vanselow and R. Howe (Springer-Verlag, Berlin, 1982) Vol. 4, Chap. 12, p. 281.

Terms in the title (1)： 電子顕微鏡法