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J-GLOBAL ID：200902084394076377   Reference number：82A0460042

LSI構成材料中のウラン,トリウム,α放射体の評価

Author (9)： KUDO KIYOSHI (電電公社茨城電通研) ,  ANAYAMA HIROSHI (電電公社武蔵野電通研) ,  SHIGEMATSU TOSHIO (電電公社茨城電通研) ,  HIRAI SHIYOJI (武蔵工大原子力研) ,  NOZAKI TADASHI (理研) ,  ARATANI MICHI (理研) ,  OTSUKA HIDEKO (理研) ,  OKANO SHINJI (理研) ,  OKAMOTO SHIYOICHI (長岡技科大)
Material： Radioisotopes
Volume： 31  Issue： 9  Page： 490-499  Publication year： Sep. 1982 
JST Material Number： G0494A  ISSN： 0033-8303  CODEN： RAISAB  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： LSI ,...
Semi thesaurus term： random access memory ,...

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JST classification (2)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G) ,  Radiochemical analysis of other substances  (CC06100H)

Reference (3)：

• 1) T.C. May and M.H. Woods: 16th Annual Proceedings, Reliability Phys., p.33 (1978)
• 2) 家田信明, 鳴海直明: 半導体トランジスタ研究会資料, SSD-80-47, 電子通信学会, (1980)
• 3) 本間中八郎, 他: 電気通信研究所研究実用化報告, 29, 1557 (1980)

Terms in the title (5)： LSI ,  ウラン ,  トリウム ,  α放射体 ,  評価