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J-GLOBAL ID：200902101072692597   Reference number：01A0620396

Direct observation of the field-stimulated exoemission sites at tungsten surfaces using field ion microscopy.

タングステン表面における電界刺激エクゾ電子放出位置の電界イオン顕微鏡法による直接観測

Author (5)： SHIOTA T (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  UMENO M (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  DOHKUNI K (Kobe Univ., Hyogo, JPN) ,  TAGAWA M (Kobe Univ., Hyogo, JPN) ,  OHMAE N (Kobe Univ., Hyogo, JPN)
Material： Journal of Applied Physics  (Journal of General Physics and its Application to Other Sciences and to Industry)
Volume： 89  Issue： 9  Page： 5177-5182  Publication year： May. 01, 2001 
JST Material Number： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *exoelectron emission ,...

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JST classification (2)： Others in electron emission  (BM09050Z) ,  Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Terms in the title (5)： タングステン ,  電界刺激 ,  エクゾ電子放出 ,  電界イオン顕微鏡法 ,  観測