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J-GLOBAL ID：200902106216645892   Reference number：00A0319371

A Binding Method in High-Level Synthesis for Testable Data Paths Based on Acyclic Partial Scan Design.

無閉路部分スキャン設計に基づくデータパスのテスト容易化高位合成におけるバインディング手法

Author (3)： TAKASAKI TOMOYA (奈良先端科学技術大学院大) ,  INOUE TOMOO (広島市大 情報科学) ,  FUJIWARA HIDEO (奈良先端科学技術大学院大)
Material： 電子情報通信学会論文誌 D-1  (IEICE Transactions on Information and Systems, Pt.1 (Japanese Edition))
Volume： J83-D-1  Issue： 2  Page： 282-292  Publication year： Feb. 25, 2000 
JST Material Number： S0757B  ISSN： 0915-1915  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *circuit synthesis ,...
Semi thesaurus term： 高位合成 ,...

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JST classification (2)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G) ,  Logic circuits  (NC05070B)

Terms in the title (7)： 閉路 ,  スキャン設計 ,  パス ,  テスト ,  容易 ,  高位合成 ,  手法