Art

J-GLOBAL ID：200902108098779660   Reference number：01A1076187

Quantitative evaluation of strain near reconstructed Si surfaces.

再構成Si表面近傍での歪の定量的評価

Author (4)： EMOTO T (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  AKIMOTO K (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  ISHIKAWA Y (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  ICHIMIYA A (Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
Material： Surface Science  (Surface Science Letters)
Volume： 493  Issue： 1/3  Page： 221-226  Publication year： Nov. 01, 2001 
JST Material Number： C0129B  ISSN： 0039-6028  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *surface reconstruction ,...

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JST classification (1)： Surface structure of semiconductors  (BK15030A)

Terms in the title (5)： 再構成 ,  Si ,  近傍 ,  歪 ,  定量的評価