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J-GLOBAL ID：200902111501820529   Reference number：96A0277591

Automated calibration of the sample image using crystalline lattice for scale reference in scanning tunneling microscopy.

スケール参照のために結晶格子を用いた走査型トンネル顕微鏡における試料像の自動補正

Author (2)： KAWAKATSU H (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  KOUGAMI H (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
Material： Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures  (Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics Processing and Phenomena)
Volume： 14  Issue： 1  Page： 11-14  Publication year： Jan. 1996 
JST Material Number： E0974A  ISSN： 1071-1023  CODEN： JVTBD9  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： standard substance ,...
Semi thesaurus term： graphite

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JST classification (1)： Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Terms in the title (6)： スケール ,  参照 ,  結晶格子 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  試料 ,  自動補正