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J-GLOBAL ID：200902113865252910   Reference number：00A0121199

Air-bridge-structured silicon nanowire and anomalous conductivity.

空中の橋構造のSiナノ細線と異常な伝導率

Author (4)： FUJII H (Japan Sci. and Technol. Corp.(JST), Saitama, JPN) ,  KANEMARU S (Electrotechnical Lab., Ibaraki, JPN) ,  MATSUKAWA T (Electrotechnical Lab., Ibaraki, JPN) ,  ITOH J (Electrotechnical Lab., Ibaraki, JPN)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 75  Issue： 25  Page： 3986-3988  Publication year： Dec. 20, 1999 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *fine line ,...
Semi thesaurus term： ナノ細線

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JST classification (2)： Semiconductor thin films  (BK14040E) ,  Electric conduction in crystalline semiconductors  (BM03043X)

Terms in the title (4)： 橋 ,  Si ,  ナノ細線 ,  伝導率