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J-GLOBAL ID：200902131254483205   Reference number：99A0210458

Mapping of the Hot Spots for DNA Damage by One-Electron Oxidation: Efficacy of GG Doublets and GGG Triplets as a Trap in Long-Range Hole Migration.

一電子酸化によるDNA損傷のホットスポットの地図化 長距離ホール移動でのトラップとしてのGGダブレットとGGGトリプレットの効力

Author (6)： SAITO I (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  NAKAMURA T (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  NAKATANI K (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  YOSHIOKA Y (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  YAMAGUCHI K (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  SUGIYAMA H (Tokyo Medical & Dental Univ., Tokyo, JPN)
Material： Journal of the American Chemical Society  (J Am Chem Soc)
Volume： 120  Issue： 48  Page： 12686-12687  Publication year： Dec. 09, 1998 
JST Material Number： C0254A  ISSN： 0002-7863  CODEN： JACSAT  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *DNA strand break ,...

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JST classification (1)： Molecular genetics in general  (EC02010J)

Substance index (1)： Riboflavin

Terms in the title (10)： 一電子酸化 ,  DNA損傷 ,  ホットスポット ,  地図 ,  長距離 ,  ホール ,  トラップ ,  ダブレット ,  GGG ,  トリプレット