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J-GLOBAL ID：200902156789300960   Reference number：99A0969681

Study of interdiffusion between thin Y-Ba-Cu-O films and MgO substrates by applying Rutherford backscattering spectrometry combined with scanning tunneling microscopy.

ラザフォード後方散乱分光法と走査型トンネル顕微鏡法の併用によるY-Ba-Cu-O薄膜とMgO基板間の相互拡散の研究

Author (5)： FUJINO Y (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  IGARASHI Y (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  YAMAURA S (Tohoku Univ., Sendai, JPN) ,  SUZUKI N (Utsunomiya Univ., Utsunomiya, JPN) ,  IIMURA K (Utsunomiya Univ., Utsunomiya, JPN)
Material： Journal of Vacuum Science & Technology. A. Vacuum, Surfaces and Films  (Journal of Vacuum Science and Technology. A. Vacuum, Surfaces, and Films)
Volume： 17  Issue： 5  Page： 2962-2968  Publication year： Sep. 1999 
JST Material Number： C0789B  ISSN： 0734-2101  CODEN： JVTAD6  Document type： Article
Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (9)： ラザフォード後方散乱分光法 ,  走査型トンネル顕微鏡法 ,  併用 ,  Ba ,  Cu ,  薄膜 ,  MgO ,  相互拡散 ,  研究