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J-GLOBAL ID：200902158508782041   Reference number：02A0278731

Instability of Cl-Related Deep Defects in ZnSe.

ZnSe中のClが関係する深い欠陥の不安定性

Author (5)： HARADA Y (Osaka Inst. Technol., Osaka, JPN) ,  NAKATA H (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  OHYAMA T (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  OHKAWA K (Sci. Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  ISSHIKI M (Tohoku Univ., Sendai, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Brief Communications & Review Papers)
Volume： 41  Issue： 2A  Page： 514-517  Publication year： Feb. 15, 2002 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *zinc selenide ,...

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JST classification (1)： Electronic structure of impurites and defects  (BM02100I)

Reference (23)：

• 1) D. J. Chadi and K. J. Chang: Appl. Phys. Lett. 55 (1989) 575.
• 2) C. H. Park and D. J. Chadi: Phys. Rev. Lett. 75 (1995) 1134.
• 3) A. Ohki, Y. Kawaguchi, K. Ando and K. Katsui: Appl. Phys. Lett. 59 (1991) 671.
• 4) I. S. Hauksson, J. Simpson, S. Y. Wang, K. A. Prior and B. C. Cavenett: Appl. Phys. Lett. 61 (1992) 2208.
• 5) K. Ohkawa, T. Karasawa and T. Mitsuyu: J. Cryst. Growth 111 (1991) 797.

Terms in the title (4)： ZnSe ,  Cl ,  欠陥 ,  不安定性