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J-GLOBAL ID：200902169293690142   Reference number：97A0137482

Built-In Multiple Weighted Random Testing Based on Genetic Algorithms.

テスティング技術 遺伝的アルゴリズムを用いた組込み型多重重み付けランダムテストの最適化手法

Author (2)： YOKOYAMA HIROSHI (秋田大 鉱山) ,  TAMAMOTO HIDEO (秋田大 鉱山)
Material： 電子情報通信学会論文誌 D-1  (IEICE Transactions on Information and Systems, Pt.1 (Japanese Edition))
Volume： 79  Issue： 12  Page： 1083-1091  Publication year： Dec. 1996 
JST Material Number： S0757B  ISSN： 0915-1915  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： optimization method ,...

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JST classification (1)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Reference (20)：

• AGARWAL, V. K. A tutorial on builtin self test. Trans. of IEEE Design & Test of Comp. 1993, 69-77
• HELLEBRAND, S. Generating pseudo-exhaustive vectors for external testing. Proc. of ITC90. 1990, 670-679
• MURADALI, F. A new procedure for weighted random built-in self-test. Proc. of ITC90. 1990, 660-669
• MIRANDA, M. A. Generation of optimized single distributions of weights for random built-in self test. Proc. of ITC93. 1993, 1023-1050
• WUNDERLICH, H. -J. Multiple distributions for biased random test patterns. Proc. of ITC88. 1988, 236-244

Terms in the title (6)： 遺伝的アルゴリズム ,  組込み ,  多重 ,  重み付け ,  ランダムテスト ,  最適化手法