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J-GLOBAL ID：200902170690651755   Reference number：97A0137485

I_DDQ Test Vector Selection for Transistor Short Fault Testing.

テスティング技術 トランジスタ短絡故障のI_DDQテストベクトルの選択について

Author (3)： TAMAMOTO HIDEO (秋田大 鉱山) ,  KINOSHITA KOZO (大阪大 工) ,  WEN X (秋田大 鉱山)
Material： 電子情報通信学会論文誌 D-1  (IEICE Transactions on Information and Systems, Pt.1 (Japanese Edition))
Volume： 79  Issue： 12  Page： 1113-1122  Publication year： Dec. 1996 
JST Material Number： S0757B  ISSN： 0915-1915  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： short circuit fault ,...

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JST classification (1)： Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Reference (15)：

• SODEN, J. M. IDDQ testing: a review. JETTA. 1992, 3, 4, 291-304
• MALY, W. Built-in current testing-feasibility study. Proc. ICCAD-88. 340-343
• MALY, W. Design of ICs applying builtin current testing. JETTA. 1992, 3, 4, 397-406
• AHUJA, H. Intel386TM EX embedded processor IDDQ testing. Proc. ITC-95. 1995, 902-909
• MAO, W. QUIETEST: A quiescent current testing methodlogy for detecting leakage faults. Proc. ICCAD-90. 1990, 280-283

Terms in the title (4)： トランジスタ ,  短絡故障 ,  テスト ,  ベクトル