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J-GLOBAL ID：200902177391083028   Reference number：02A0599599

High-throughput characterization of composition-spread manganese oxide films with a scanning SQUID microscope.

走査型SQUID顕微鏡を用いた組成広がり酸化マンガン薄膜の高スループット評価

Author (9)： HASEGAWA T (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  KAGEYAMA T (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  FUKUMURA T (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  OKAZAKI N (Combinatorial Materials Exploration and Technol. (COMET), Yokohama, JPN) ,  KAWASAKI M (Combinatorial Materials Exploration and Technol. (COMET), Yokohama, JPN) ,  KOINUMA H (Tokyo Inst. Technol., Yokohama, JPN) ,  YOO Y K (Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA) ,  DUEWER F (Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA) ,  XIANG X-D (Lawrence Berkeley National Lab., CA, USA)
Material： Applied Surface Science  (Appl Surf Sci)
Volume： 189  Issue： 3/4  Page： 210-215  Publication year： Apr. 28, 2002 
JST Material Number： B0707B  ISSN： 0169-4332  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Netherlands (NLD)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *scanning probe microscope ,...
Semi thesaurus term： 走査型SQUID顕微鏡

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JST classification (2)： Magnetic properties of oxides  (BM06050E) ,  Oxide thin films  (BK14050P)

Terms in the title (7)： 走査型SQUID顕微鏡 ,  組成 ,  広がり ,  酸化マンガン ,  薄膜 ,  高スループット ,  評価