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J-GLOBAL ID：200902204929181790   Reference number：03A0213082

Point-contact current-imaging atomic force microscopy: Measurement of contact resistance between single-walled carbon nanotubes in a bundle.

点接触電流画像化原子間力顕微鏡 単一壁炭素ナノチューブ束のチューブ間接触抵抗の測定

Author (4)： OTSUKA Y (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  NAITOH Y (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MATSUMOTO T (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KAWAI T (Osaka Univ., Osaka, JPN)
Material： Applied Physics Letters  (Appl Phys Lett)
Volume： 82  Issue： 12  Page： 1944-1946  Publication year： Mar. 24, 2003 
JST Material Number： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *point contact ,...
Semi thesaurus term： bundle structure

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JST classification (2)： Electrical properties of interfaces in general  (BM03081H) ,  Atomic and molecular clusters  (BH09030O)

Terms in the title (7)： 点接触 ,  画像化 ,  原子間力顕微鏡 ,  炭素ナノチューブ ,  束 ,  チューブ ,  接触抵抗