Art

J-GLOBAL ID：200902214687618612   Reference number：06A0058543

Atomic Force Microscopy Utilizing SubAngstrom Cantilever Amplitudes

オングストローム以下のカンチレバー振幅を用いた原子間力顕微鏡法

Author (5)： KAWAKATSU Hideki (Instutute of Industrial Sci., Univ. of Tokyo, JPN) ,  KAWAI Shigeki (Japan Sci. and Technol. Agency, JPN) ,  KOBAYASHI Dai (Japan Sci. and Technol. Agency, JPN) ,  KITAMURA Shin-ichi (JEOL Ltd., JPN) ,  MEGURO Sakae (Neoark Corp., JPN)
Material： e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web)  (表面科学とナノテクノロジー)
Volume： 4  Page： 110-114 (J-STAGE)  Publication year： 2006 
JST Material Number： U0016A  ISSN： 1348-0391  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *atomic force microscope ,...
Semi thesaurus term： ダイナミックモード

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=06A0058543&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=U0016A") }}

JST classification (1)： Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (9)：

• [1] G. Binnig, C. F. Quate, and Ch. Gerber, Atomic Force Microscope, Phys, Rev. Lett. 56, 930 (1986).
• [2] F. J. Giessibl, Atomic resolution of the silicon(111) 7× 7 surface by atomic force microscopy, Science 267, 68 (1995).
• [3] F. J. Giessibl, Advances in atomic force microscopy, Rev. Mod. Phys. 75, 949 (2003).
• [4] T. Fukuma K. Kobayashi, K. Matsushige and H. Yamada, True atomic resolution in liquid by frequency-modulation atomic force micrscopy, Appl. Phys. Lett. 87, 034101 (2005).
• [5] F. J. Giessibl, Atomic resoolution on Si(111)-7× 7 by noncontact atomic force microscopy with a force sensor based on a quartz tuning fork, Appl. Phys. Lett. 76, 1470 (2000).

Terms in the title (4)： オングストローム ,  カンチレバー ,  振幅 ,  原子間力顕微鏡法