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J-GLOBAL ID：200902222645787751   Reference number：03A0393132

Structural Analysis of Bismuth Nanowire by X-Ray Standing Wave Method

X線定在波方法によるビスマス・ナノワイヤの構造解析

Author (7)： SAITO A (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MATOBA K (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KURATA T (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MARUYAMA J (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KUWAHARA Y (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MIKI K (NIMS, Ibaraki, JPN) ,  AONO M (Osaka Univ., Osaka, JPN)
Material： Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Brief Communications & Review Papers)
Volume： 42  Issue： 4B  Page： 2408-2411  Publication year： Apr. 30, 2003 
JST Material Number： G0520B  ISSN： 0021-4922  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： standing wave ,...
Semi thesaurus term： X-ray standing wave method

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JST classification (1)： Metallic thin films  (BK14030T)

Reference (15)：

• 1) M. Naitoh, H. Shimaya, S. Nishigaki, N. Oishi and F. Shoji: Surf. Sci. 377–379 (1997) 899.
• 2) K. Miki, J. H. G. Owen, D. R. Bowler, G. A. D. Briggs and K. Sakamoto: Surf. Sci. 421 (1999) 397.
• 3) M. Naitoh, H. Shimaya, S. Nishigaki, N. Oishi and F. Shoji: Appl. Surf. Sci. 142 (1999) 38.
• 4) K. Miki, D. R. Bowler, J. H. G. Owen, G. A. D. Briggs and K. Sakamoto: Phys. Rev. B 59 (1999) 14868.
• 5) K. Miki, H. Matsuhata, K. Sakamoto, J. H. G. Owen, D. R. Bowler and G. A. D. Briggs: Microscopy of Semiconducitng Materials, Inst. Phys. Conf. Ser. 164 (1999) 167.

Terms in the title (5)： X線 ,  定在波 ,  ビスマス ,  ナノワイヤ ,  構造解析