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J-GLOBAL ID：200902230998073097   Reference number：08A1231563

Direct Evaluation of Anchoring Effects and Vertical Orientation Profiling of Liquid Crystal Films by Near-Field Birefringence Measurement

近接場複屈折率測定による液晶膜の垂直配向プロファイリングとアンカリング効果の直接評価

Author (3)： QIN Jing (Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN) ,  IWAMI Kentaro (Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN) ,  UMEDA Norihiro (Tokyo Univ. Agriculture and Technol., Tokyo, JPN)
Material： Applied Physics Express  (APEX)
Volume： 1  Issue： 11  Page： 111501.1-111501.3  Publication year： Nov. 25, 2008 
JST Material Number： F0599C  ISSN： 1882-0778  CODEN： APEPC4  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United Kingdom (GBR)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： Birefringence ,  refractive index ,  scanning probe microscope ,  scanning optical microscope ,  *anchoring (liquid crystal) ,  *homeotropic orientation ,  molecular orientation ,  *liquid crystal ,  near field optical microscope
Semi thesaurus term： profiling ,  scanning near-field optical microscope

JST classification (1)： Liquid crystals in general  (BK03010L)

Reference (35)：

• PERSHAN, P. S. Phys. Rev. Lett. 1984, 52, 759
• GRAMSBERGEN, E. F. J. Phys. (Paris). 1986, 47, 711
• MIYANO, K. Phys. Rev. Lett. 1979, 43, 51
• BEAGLEHOLE, D. Mol. Cryst. Liq. Cryst. 1982, 89, 319
• GUYOT-SIONNEST, P. Phys. Rev. Lett. 1986, 57, 2963

Terms in the title (7)： 近接場 ,  複屈折率 ,  液晶 ,  垂直配向 ,  プロファイリング ,  アンカリング ,  評価