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J-GLOBAL ID：200902242025620769   Reference number：08A0372267

Nanomechanical Interaction between a Tip and a Sample with Changing Bias Voltage Observed by Using Scanning Probe Microscopy

「表面界面のナノ力学」走査型プローブ顕微鏡にみる電圧印加のナノ力学的相互作用

Author (3)： TOMITORI MASAHIKO (北陸先端科学技術大学院大) ,  ARAI TOYOKO (金沢大 大学院自然科学研究科) ,  ARAI TOYOKO (JST-SORST)
Material： 表面科学  (JSSSJ)
Volume： 29  Issue： 4  Page： 239-245  Publication year： Apr. 10, 2008 
JST Material Number： F0940B  ISSN： 0388-5321  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *atomic force microscope ,  *spectroscopy ,  surface level ,  resonance frequency ,  voltage dependence ,  covalent bond ,  interface(surface) ,  interaction ,  visualization
Semi thesaurus term： noncontact atomic force microscopy

JST classification (2)： Microscopy determination of structures  (BK01040E) ,  Electronic structure of surfaces  (BM02080J)

Reference (26)：

• 1) G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber and E. Weibel: Phys. Rev. Lett. 49, 57 (1982).
• 2) G. Binnig, H. Rohrer, Ch. Gerber and E. Weibel: Phys. Rev. Lett. 50, 120 (1983).
• 3) G. Binnig, C.F. Quate and Ch. Gerber: Phys. Rev. Lett. 56, 930 (1986).
• 4) T.R. Albrecht, P. Grütter, D. Horne and D. Rugar: J. Appl. Phys. 69, 668 (1991).
• 5) F.J. Giessibl: Science 267, 68 (1995).

Terms in the title (5)： 界面 ,  ナノ力学 ,  走査型プローブ顕微鏡 ,  電圧印加 ,  相互作用