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J-GLOBAL ID：200902246378023964   Reference number：08A0711408

STEM像の解釈(I)

Author (2)： YAMAZAKI TAKASHI (東京理大 理) ,  WATANABE KAZUTO (東京都産技高専)
Material： 顕微鏡  (Microscopy)
Volume： 43  Issue： 2  Page： 125-129  Publication year： Jun. 30, 2008 
JST Material Number： Y0541A  ISSN： 1349-0958  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *scanning transmisson electron microscope ,  *visual field ,  lattice image ,  *atomic structure ,  space resolving power ,  *electronic state ,  *locality ,  image processing ,  *silicon ,  semiconductor ,  *dark field
Semi thesaurus term： 高角度環状暗視野走査透過型電子顕微鏡

JST classification (1)： Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Reference (21)：

• 1)Pennycook, S.J. and Boatner, L.A.: Nature, 336,565-567(1988)
• 2)Shin, D.H., Kirkland, E.J. and Silcox, J.: Appl. Phys. Lett., 55,2456-2458(1989)
• 3)Pennycook, S.J. and Jesson, D.E.: Phys. Rev. Lett., 64,938-941(1990)
• 4)Pennycook, S.J. and Nellist, P.D.: Impact of Electron and Scanning Probe Microscopy on Material Reseach, Kluwer Academic Publishers, 1999
• 5)Haider, M., Uhlemann, S., Schwan, E., Rose, H., Kabius, B. and Urban, K.: Nature, 392,768-769(1998)

Terms in the title (1)： STEM