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J-GLOBAL ID：200902283840104790   Reference number：04A0863941

Lattice imaging in low-angle and high-angle bright-field scanning transmission electron microscopy

低角度および高角度明視野走査型透過電子顕微鏡法における格子イメージング

Author (8)： WATANABE K (Tokyo Metropolitan Coll. Technol., Tokyo, JPN) ,  KIKUCHI Y (Assoc. Super-Advanced Electronics Technol. (ASET), Kanagawa, JPN) ,  YAMAZAKI T (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  ASANO E (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  NAKANISHI N (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN) ,  KOTAKA Y (Fujitsu Lab. Ltd., Kanagawa, JPN) ,  OKUNISHI E (JEOL Ltd, Tokyo, JPN) ,  HASHIMOTO I (Tokyo Univ. Sci., Tokyo, JPN)
Material： Acta Crystallographica. Section A. Foundations of Crystallography  (Acta Crystallographica. Section A. Fundamentls of Crystallography)
Volume： A60  Issue： 6  Page： 591-597  Publication year： Nov. 2004 
JST Material Number： A0315B  ISSN： 0108-7673  CODEN： ACACEQ  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *scanning transmisson electron microscope ,...
Semi thesaurus term： Kossel pattern

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JST classification (1)： Microscopy determination of structures  (BK01040E)

Terms in the title (4)： 明視野 ,  走査型透過電子顕微鏡法 ,  格子 ,  イメージング