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J-GLOBAL ID：200902286599146485   Reference number：07A0067489

Direct Measurement of SET Pulse Widths in 0.2-μm SOI Logic Cells Irradiated by Heavy Ions

重イオン照射した0.2μm SOI論理セルにおけるSETパルス幅の直接測定

Author (13)： YANAGAWA Y. (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  HIROSE K. (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN) ,  HIROSE K. (Graduate Univ. Advanced Studies, Kanagawa, JPN) ,  SAITO H. (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  SAITO H. (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN) ,  KOBAYASHI D. (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN) ,  KOBAYASHI D. (Graduate Univ. Advanced Studies, Kanagawa, JPN) ,  FUKUDA S. (Univ. Tokyo, Tokyo, JPN) ,  FUKUDA S. (Japan Aerospace Exploration Agency, Kanagawa, JPN) ,  ISHII S. (Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN) ,  TAKAHASHI D. (Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN) ,  YAMAMOTO K. (Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN) ,  KURODA Y. (Mitsubishi Heavy Ind. Ltd., Aichi, JPN)
Material： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Trans Nucl Sci)
Volume： 53  Issue： 6,Pt.1  Page： 3575-3578  Publication year： Dec. 2006 
JST Material Number： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *SEU ,...
Semi thesaurus term： *SET【シングルイベント】

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JST classification (2)： Irradiational changes semiconductors  (BK16123E) ,  Semiconductor integrated circuit  (NC03162T)

Terms in the title (6)： 重イオン照射 ,  SOI ,  論理セル ,  SET ,  パルス幅 ,  直接測定