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J-GLOBAL ID：200903000024981709

赤外線撮像装置の画素置換方法

Inventor： 松本 保志 ,  中村 正昭 ,  行木 英時 ,  岡本 幹泰 ,  竹野井 清
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 柏谷 昭司 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995316463
Publication number (International publication number)：1997163228
Application date： Dec. 05, 1995
Publication date： Jun. 20, 1997
Summary：

【要約】【課題】多素子の赤外線検知器を用いた赤外線撮像装置において、欠陥画素が増加した場合の、自動および手動による画素置換方法を提供する。【解決手段】多素子赤外線検知器を用いてフレームメモリ上に二次元画像を形成して二次元画像表示を行なう赤外線撮像装置において、高温と低温の基準温度に対する各検知素子の高温データと低温データとを記憶する基準温度データメモリ7と、各検知素子の高温データと低温データとの差を求め、全検知素子について差の平均値を算出して、平均値と上限設定値との和が差の値より大きいか、平均値と下限設定値との和が差の値より小さいとき、検知素子を欠陥素子と判定する欠陥判定部15と、フレームメモリ10における欠陥画素に対応する検知素子のアドレスを、欠陥画素に隣接する正常画素に対応する検知素子のアドレスによって置き換える置換メモリ9とを備えて、欠陥画素と隣接画素との自動置換を行なう。

Claim (excerpt)：

複数の検知素子を一次元に配列してなる一次元多素子赤外線検知器からの出力によってフレームメモリ上に二次元画像を形成して二次元画像表示を行なう赤外線撮像装置において、高温の基準温度に対する各検知素子の高温データと低温の基準温度に対する各検知素子の低温データとを記憶する基準温度データメモリと、各検知素子の高温データと低温データとの差を求め、全検知素子について該差の平均値を算出して、該平均値と上限設定値との和が差の値より大きいときおよび該平均値と下限設定値との和が差の値より小さいとき該検知素子を欠陥素子と判定する欠陥判定部と、フレームメモリにおける欠陥画素に対応する検知素子のアドレスを該欠陥画素に隣接する正常画素に対応する検知素子のアドレスによって置き換える置換メモリとを備え、欠陥素子に基づく欠陥画素を正常素子に基づく正常画素によって自動置換して画像表示を行なうことを特徴とする赤外線撮像装置の画素置換方法。

IPC (2)：

H04N 5/33 ,  H04N 5/335

FI (2)：

H04N 5/33 ,  H04N 5/335 P

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 固体撮像装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-200696   Applicant：富士通株式会社
• 特開昭59-110286
  
• 赤外線検知器の信号処理装置及び信号処理方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-242799   Applicant：富士通株式会社

Cited by examiner (4)

• 固体撮像装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-200696   Applicant：富士通株式会社
• 特開昭59-110286
  
• 固体撮像素子の欠陥補正装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-282494   Applicant：ソニー株式会社
• 特開平3-227185