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J-GLOBAL ID:200903000093050997
微小領域観察装置
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
林 敬之助
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997262475
Publication number (International publication number):1999101862
Application date: Sep. 26, 1997
Publication date: Apr. 13, 1999
Summary:
【要約】【課題】 第一のセンサーと被測定物を非接触で接近させることができ、かつ第一のセンサーの角度を一定に保つことができる微小領域観察装置の提供。【解決手段】 測定室に第一のセンサー11とマイクロカンチレバー81、スキャナー70、走査ステージ41、を設置する。走査ステージ41上に被測定物20を設置し、マイクロカンチレバー81にて被測定物20との間隔を検出し、スキャナー70で前記間隔が一定となるように距離制御し、第一のセンサー11が被測定物20を非接触に走査する。
Claim (excerpt):
被測定物の物性を検出する第一のセンサーと、前記第一のセンサーと被測定物間の距離を変える移動機構を有する装置において、前記第一のセンサーと被測定物間の距離を検出する第二のセンサーを有することを特徴とする微小領域観察装置。
IPC (5):
G01R 33/10
, G01B 21/30
, G01N 27/60
, G01N 27/87
, G01R 33/035 ZAA
FI (5):
G01R 33/10
, G01B 21/30 Z
, G01N 27/60 A
, G01N 27/87
, G01R 33/035 ZAA
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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走査型プローブ顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-328970
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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微小磁場測定手段を用いた材料評価方法およびその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-131746
Applicant:日本電信電話株式会社
-
走査型近視野原子間力顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-032396
Applicant:セイコー電子工業株式会社
-
カンチレバーチップ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-054799
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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