3次元計測装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：久保幸雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996157069
Publication number (International publication number)：1998002712
Application date： Jun. 18, 1996
Publication date： Jan. 06, 1998
Summary：

【要約】【課題】ユーザーが計測条件の適否を計測の前又は後に確認して適切な操作を行うことのできる3次元計測装置を提供する。【解決手段】物体にパターン光を投射し、物体で反射したパターン光の反射光に基づいて物体の形状を計測する3次元計測装置において、物体の反射率・撮影距離などの計測条件の適否を判別する条件判別手段と、計測条件が不適正と判別されたときに警告を発する通知手段とを設ける。

Claim (excerpt)：

物体にパターン光を投射し、前記物体で反射した前記パターン光の反射光に基づいて前記物体の形状を計測する3次元計測装置であって、計測条件の適否を判別する条件判別手段と、計測条件が不適正と判別されたときに警告を発する通知手段と、を有したことを特徴とする3次元計測装置。

IPC (3)：

G01B 11/00 , G01B 11/24 , G06T 7/00

FI (3)：

G01B 11/00 B , G01B 11/24 A , G06F 15/62 415

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (7)

寸法測定器
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-277524 Applicant：株式会社東海理化電機製作所
3次元形状入力装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-132998 Applicant：ミノルタ株式会社
光学式変位センサ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-134010 Applicant：松下電工株式会社

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