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J-GLOBAL ID：200903000420342476

イオンビーム分析方法およびイオンビーム分析装置

Inventor： 伊藤 岳彦 ,  岩村 康弘 ,  坂野 充 ,  栗林 志頭真 ,  岡野 達雄 ,  福谷 克之
Applicant, Patent owner： 三菱重工業株式会社 ,  東京大学長
Agent (2)： 藤田 考晴 ,  上田 邦生
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004120315
Publication number (International publication number)：2005300454
Application date： Apr. 15, 2004
Publication date： Oct. 27, 2005
Summary：

【課題】 重水素の計測を可能にしたイオンビーム分析装置を提供する。【解決手段】 試料10に7Liイオンビームを照射する加速器5と、試料10に含まれる重水素との共鳴核反応によって放射されるγ線量を検出するγ線検出器7と、γ線検出器7によって検出されたγ線量に基づいて、試料10に含まれる重水素の存在量を算出する演算手段とを備えていることを特徴とする。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

試料に7Liイオンビームを照射し、 前記試料に含まれる重水素との共鳴核反応によって放射されるγ線量を計測し、 計測されたγ線量から前記試料に含まれる重水素を測定することを特徴とするイオンビーム分析方法。

IPC (2)：

G01N23/22 ,  G21K5/04

FI (2)：

G01N23/22 ,  G21K5/04 A

F-Term (24)：

2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA06 ,  2G001EA01 ,  2G001FA02 ,  2G001GA04 ,  2G001GA06 ,  2G001GA13 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001JA07 ,  2G001JA12 ,  2G001KA01 ,  2G001KA11 ,  2G001MA05 ,  2G001PA11 ,  2G001PA12 ,  2G001PA13 ,  2G001PA30 ,  2G001SA02 ,  2G001SA29 ,  2G001SA30

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平4-280052
  
• レーザ発振器
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-134583   Applicant：三菱重工業株式会社
• 拡散材料の表面反応過程分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-220387   Applicant：三菱重工業株式会社
• 特開平4-280052