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J-GLOBAL ID：200903000610339226

ポリ塩化ビフェニル類の定量方法

Inventor： 今井 眞 ,  今西 克也 ,  横堀 尚之 ,  伊藤 由美子
Applicant, Patent owner： 株式会社住化分析センター
Agent (3)： 久保山 隆 ,  中山 亨 ,  榎本 雅之
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006072261
Publication number (International publication number)：2007248270
Application date： Mar. 16, 2006
Publication date： Sep. 27, 2007
Summary：

【課題】ポリ塩化ビフェニル類(PCB類)を含む疎水性試料に含まれ、PCB類の定量に妨害となる共存物質を、簡便な操作で、十分に除去して、PCB類を定量しうる方法を提供する。【解決手段】本発明のPCB類の定量方法は、前処理工程として、疎水性試料を、BET比表面積250〜450m2/g、細孔容積1.4〜2.6cm3/gのシリカゲルに遊離SO3濃度5〜40質量%の発煙硫酸が含浸された発煙硫酸含浸シリカゲルと接触させる工程を含むことを特徴とする。疎水性試料を、発煙硫酸含浸シリカゲルが充填された発煙硫酸含浸シリカゲルカラムに加え、通過させる。【選択図】なし

Claim (excerpt)：

ポリ塩化ビフェニル類を含む疎水性試料中のポリ塩化ビフェニル類を定量するに際し、前処理工程として、前記疎水性試料を、以下の条件を満たす発煙硫酸含浸シリカゲルと接触させる工程を含むことを特徴とする前記ポリ塩化ビフェニル類の定量方法。 発煙硫酸含浸シリカゲル:BET比表面積250m2/g〜450m2/g、細孔容積1.4cm3/g〜2.6cm3/gのシリカゲルに、遊離SO3濃度が5質量%〜40質量%である発煙硫酸が含浸されてなる発煙硫酸含浸シリカゲル

IPC (1)：

G01N 31/00

FI (2)：

G01N31/00 V ,  G01N31/00 Y

F-Term (4)：

2G042AA01 ,  2G042BD02 ,  2G042FA01 ,  2G042FB05

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• イオントラップ質量分析計を用いたGC/MS/MS方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-296948   Applicant：株式会社荏原製作所

Cited by examiner (3)

• 特表平4-506369
  
• 特表平4-506369
  
• ポリ塩化ビフェニル類の分析方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-116582   Applicant：株式会社住化分析センター, 財団法人電力中央研究所

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 日本農芸化学会大会講演要旨集, 2005, Vol.2005, Page.3 29A018β
• 日本農芸化学会大会講演要旨集, 2005, Vol.2005, Page.3 29A018β