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J-GLOBAL ID：200903000698897380

複数の試料個所で同時に試料を光励起する走査顕微鏡

Inventor： ヘル・シュテファン ,  ベーヴェルスドルフ・イエルク ,  ピック・ライナー
Applicant, Patent owner： マックス-プランク-ゲゼルシャフト・ツール・フェルデルング・デア・ヴィッセンシャフテン・エー・ファウ
Agent (1)： 江崎 光史 (外3名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1998528404
Publication number (International publication number)：2001506015
Application date： Dec. 22, 1997
Publication date： May. 08, 2001
Summary：

【要約】本発明は、光学装置、特に走査顕微鏡(1)に関する。広げられたレーザビーム(2)は並べて配置された複数の微小レンズ(5)によって複数のビーム部分(4)に分割され、各々のビーム部分は、試料を光励起するために、共通の対物レンズ(7)によって一つの焦点で集束する。試料(8)の外において対物レンズ(7)の背後に配置された光センサ(13)によって、試料(8)の個々の焦点(11)から来る蛍光発光が感知される。試料(8)から来て光センサ(13)によって感知される蛍光発光の各々の光子が、レーザビーム(2)からの少なくとも2個の光子によって励起される。

Claim (excerpt)：

広げられたレーザビームが並べて配置された複数の微小レンズによって複数 のビーム部分に分割され、ビーム部分が共通の対物レンズによってそれぞれ試 料を光励起するために一つの焦点で集束し、試料の外において対物レンズの背 後に配置された光センサによって、試料の個々の焦点から来る蛍光発光が感知 される、光学装置、特に走査顕微鏡において、試料(8)から来て光センサ( 13)によって感知される蛍光発光の各々の光子が、レーザビームからの少な くとも2個の光子によって励起されることを特徴とする装置。

IPC (2)：

G02B 21/00 ,  G01N 21/64

FI (2)：

G02B 21/00 ,  G01N 21/64 E

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

• 走査型光学顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-034733   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 共焦点光スキャナ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-245105   Applicant：横河電機株式会社
• 共焦点光学装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-231549   Applicant：株式会社小松製作所
• 特表平6-946641
  
• 特開平3-055510
  
• 2光子励起顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-193093   Applicant：横河電機株式会社