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J-GLOBAL ID：200903001121699674

電磁波検出器及び電磁波検出システム

Inventor：
石井 稔浩

About 石井 稔浩


Applicant, Patent owner：
株式会社リコー

About 株式会社リコー


Agent (1)： 丸山 隆夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006343304
Publication number (International publication number)：2008157633
Application date： Dec. 20, 2006
Publication date： Jul. 10, 2008
Summary：
【課題】テラヘルツ帯の電磁波を高感度に検出する電磁波検出器及び該検出器を用いた電磁波検出システムを提供する。【解決手段】電磁波検出器10は、テラヘルツ光を感知しその電場強度分布に応じて複屈折分布を誘起する電気光学結晶12と、メタル周期構造11と、電気光学結晶12に向けてプローブ光15を照射する半導体レーザ13と、電気光学結晶12を介して偏光状態が変化したプローブ光15を検知して光電変換を行うCCD19と、少なくとも備える。そして、CCD19は、半導体レーザ13により照射され、メタル周期構造11の形成面とは反対面の電気光学結晶12を反射したプローブ光15を検知して光電変換を行う。【選択図】図2
Claim (excerpt)：
電磁波を感知し前記電磁波の電場強度分布に応じて複屈折分布を誘起する電気光学結晶を含む電気光学結晶層と、 前記電気光学結晶層に向けてプローブ光を照射するプローブ光照射部と、 前記電気光学結晶層を介して偏光状態が変化した前記プローブ光を検知して光電変換を行う光電変換部と、を備える電磁波検出器であって、 前記光電変換部は、前記プローブ光照射部により照射され、前記電気光学結晶層を反射した前記プローブ光を検知して光電変換を行うことを特徴とする電磁波検出器。
IPC (3)：
G01N 21/35 ,  G02F 1/03 ,  G01N 21/21
FI (3)：
G01N21/35 Z ,  G02F1/03 505 ,  G01N21/21 Z
F-Term (23)：
2G059BB12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE04 ,  2G059EE05 ,  2G059EE09 ,  2G059GG01 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G066AA04 ,  2G066AC13 ,  2G066BA14 ,  2G066CA01 ,  2H079AA08 ,  2H079CA11 ,  2H079DA03 ,  2H079EA11
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)
  • 特定物質探知装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-082873   Applicant：ペンタックス株式会社
  • ミリ波イメージングシステム
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-229132   Applicant：日本電信電話株式会社
Article cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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